• 掃描式電子顯微鏡
    掃描式電子顯微鏡
    SNE-4500M PLUS
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  • 標準型X-Ray檢測設備
    標準型X-Ray檢測設備
    X-eye 5100 Series
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  • 氬離子束樣品裝備系統
    氬離子束樣品裝備系統
    Model 1061 SEM Mill
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  • 3D金相顯微鏡
    3D金相顯微鏡
    PA53MET
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公司簡介

Jing Teng Tech Limited Company

專業顯微鏡的提供者-多樣化的選擇,提供優質的專業服務。

專業代理各式專業顯微鏡-掃描式電子顯微鏡(SEM+EDS)、鍍金機、離子研磨機(Ion Mill/CP)、雷射開蓋機、電顯耗材、實體顯微鏡、金相顯微鏡。。

 

品牌介紹

SNE-4500M PLUS 掃描式電子顯微鏡

SNE-4500M PLUS 包含五軸(X,Y,Z,R,T)全自動載台,並搭配光學導航,可快速移動樣品,進行表面/載面分析並可搭配EDS,進行成份分析。 放大倍数最大可達150,000倍。 SEC提供了高品質,高效率的SEM,讓您輕鬆進入微(奈)米的世界!

SNE-3200M 掃描式電子顯微鏡

考慮多種SEM圖像分析,搭載兩個接收器為基本配置,根據樣品的不同特性獲取多種結果,並且搭載High/Low Vacuum mode,在低真空模式下對生物及非導電體樣品,即使不鍍金也可以進行分析(支援Charge-up Reduction mode) SEC提供了高品質,高效率的SEM,讓您輕鬆進入微(奈)米的世界!

BRUKER EDS System

安裝在SEM(電子顯微鏡)上對樣品表面成份分析的設備,主要利用電子束所激發的特性X光來進行待測樣品的定性或定量化學成份分析。

MCM-100 Ion Sputter Coater 自動化鍍金機

鍍金機是在樣品表面鍍一層金屬(Au/Pt)薄膜的電鍍設備。 隨著樣品的導電性增加,而產生二次電子量的增加,可以獲取更為鮮明的圖像外,也可降低SEM真空腔體的汙染。

X-eye 5100 Series

X-eye 5100 Series為標準型X-Ray檢測設備,專門檢測半導體SMT及電子/電池零件,非破壞分析設備。且具備生產檢查SMT及電子/電池零件的S/W。多樣的便利功能容易使用。

X-eye SF160 Series

X-eye SF160 Series為研究分析用X-Ray CT檢測設備,具備2D & 3D Micro CT System與Micro-Open Tube, 以Dual CT功能體現最高的CT影像/提供高速掃描。

X-eye NF120

X-eye NF120為晶圓級封裝檢查的無損分析設備,提供Dual Type的CT獲得高分辨率影像,TSV, Micro Bump, Pattern。

X-eye 6300

In-Line 3DCT AXI

MCM-100 Ion Sputter Coater 自動化鍍金機

鍍金機是在樣品表面鍍一層金屬(Au/Pt)薄膜的電鍍設備。 隨著樣品的導電性增加,而產生二次電子量的增加,可以獲取更為鮮明的圖像外,也可降低SEM真空腔體的汙染。

SMZ-161 實體顯微鏡、SMZ-171 實體顯微鏡

SMZ-161:採用 Greenough 光學系統,ZOOM 1:6 優異的性能價格比;放大倍數連續可調,超大工作距離,具備優良的整機性能。 SMZ-171:採用Greenough光路設計,鏡體採用一體化設計,變倍定檔輕巧方便,重複精度高, 配合不同倍數的物鏡、目鏡、各種支架、照明光源可以組合變化出多種需要的配置,滿足不同樣品的觀察和客戶的使用需求。

BA310Met 金相顯微鏡

BA310Met是基礎型金相顯微鏡,用於電子、金屬材料、礦物、地質、精密工程等檢查、分析及研究的必備儀器,適用於教學、科學研究、工業等領域。同軸落射照明系統、12V/50W燈源及長工作距離金相物鏡為您提供最佳的圖像質量和亮度。

PA53MET金相顯微鏡

PA53MET系列是專業型的金相顯微鏡提供了超專業的光學效果和智能的人機工程學設計,更提供了鏡頭高解析能力與創新模組,實為Motic最新現代光學的代表者。

PA53MET 3D金相顯微鏡

PA53MET 3D金相顯微鏡搭配Z軸電動模組且透過專屬的Motic 3D軟體 快速提供2D與3D表面形貌影像並具備2D與3D量測功能。

MM-200 雙孔鑲埋機

MM series使用壓克力樹脂或酚醛樹脂在高溫高壓狀態下將試樣镶嵌成固定大小的試樣,可提高試樣的研磨效率、操作效率和安全性。

璟騰科技有限公司

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